场发射透射电子显微镜

发布时间：2019-12-12

型号：JEM 2100F
厂商：日本电子株式会社

主要技术指标：

加速电压：200KV

倾斜角（X/Y）：±25°

分析最大厚度：100nm

点分辨率：0.19nm

线分辨率：0.10nm

STEM分辨率：0.20nm

主要用途：

材料内部显微形貌、结构、晶体结构、位向和物相分析。